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罗德与施瓦茨公司系统开发高级总监 Dr.Benoit Derat 来访并做学术报告
时间:2024年05月17日 16:11 来源: 作者: 最后编辑:吴波

2024年4月8日,罗德与施瓦茨公司系统开发高级总监 Dr. Benoit Derat 受邀访问我实验室,并在北航学院路校区新主楼F708会议室做了题为“The Antenna Digital Twin – When Measurements and Simulations Unite”的学术报告。

Dr. Benoit Derat在报告中介绍了天线或 OTA 测量是盲测,仅限于典型的测试环境,模拟几乎可以在任何情况下获得电磁场,然而,模拟的好坏取决于对辐射源细节的了解程度。二者的结合可以从实验和数值技术的综合优势中获益。报告展示了如何通过增强型 OTA 方法实现这一目标,包括根据实际测量数据创建天线数字孪生,实际应用包括车内场特性分析和虚拟人体模型的电磁场评估。

Dr. Benoit Derat于 2002 年获得 SUPELEC 工程学学位,并于 2006 年以优异成绩获得巴黎第十一大学物理学博士学位。2002 年至 2008 年,他在 SAGEM Mobiles 担任天线设计和电磁学研究工程师。2009 年,他创立了 ART-Fi,创建了首个矢量阵列比吸收率测量系统。在 2017 年加入慕尼黑罗德与施瓦茨公司之前,Dr. Benoit Derat曾担任 ART-Fi 的首席执行官兼总裁。目前,他担任系统开发和项目实施高级总监,负责电磁兼容性、Over-The-Air 和天线测试应用。Dr. Benoit Derat是天线测量技术协会(AMTA)的高级会员,发表过八十多篇科学会议和期刊论文,是四十多项专利的发明人,主要研究领域为天线系统的近场和远场特性分析技术。


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